激光粒度儀未來市場競爭激烈 
    激光粒度儀是根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，見附圖。具有測量的動態(tài)范圍大、測量速度快、操作方便等優(yōu)點，是一種適用面較廣的粒度儀，可以用于測量各種固體粉末、乳液顆粒、霧滴的粒度分布，現(xiàn)實的儀器一般根據(jù)具體的用途作具體的設(shè)計。
    激光粒度儀利用顆粒對光的散射現(xiàn)象，根據(jù)散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。歐美克通過對光學(xué)、機(jī)械、電子、計算機(jī)等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化，使歐美克激光粒度儀具備重復(fù)性良好、動態(tài)測量范圍寬廣、操作簡單方便等優(yōu)點。當(dāng)光束前進(jìn)過程中遇到顆粒時，激光粒度儀將發(fā)生散射現(xiàn)象，散射光與光束初始傳播方向形成一個夾角θ，散射角的大小與顆粒的粒徑相關(guān)，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越小。顆粒越小，激光粒度儀產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。這樣，測量不同角度上的散射光的強(qiáng)度，就可以得到樣品的粒度分布了。
　　激光粒度儀利用光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種當(dāng)前粒度測量領(lǐng)域應(yīng)用zui廣泛的的粒度儀。其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。激光粒度儀作為一種測試性能優(yōu)異和適用領(lǐng)域極廣的粒度測試儀器，已經(jīng)在其它粉體加工與應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
    隨著粉體技術(shù)的發(fā)展，對激光粒度儀的性能要求在逐步的提高，特別是粒度儀的量程要求越來越寬，測量下限要求達(dá)到幾百甚至幾十個納米，測量上限要求達(dá)到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度儀設(shè)計者提出了極大的挑戰(zhàn)。
　　顆粒越細(xì)，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內(nèi)都有分布。為了拓展儀器的測量下限，需要有非常規(guī)的光學(xué)設(shè)計。顆粒越小，分布在360度空間范圍的散射光光強(qiáng)差越小，當(dāng)顆粒小到一定極限，光強(qiáng)差將小得幾乎難以被分辨出來。這時就到了激光粒度儀的測量下限了。光學(xué)設(shè)計上的障礙和散射光本身的特性決定了常規(guī)激光粒度儀的測量下限一般在0.02微米左右。
　　激光粒度儀采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。激光粒度儀采用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級，從而能夠準(zhǔn)確地測量顆粒群的粒度分布。